なぜケイ酸根分析計にはベースライン校正が必要なのか
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ケイ酸根分析計にはゼロ点校正があるのに、なぜベースライン校正も行うのでしょうか？
なぜなら、シリケートの測定過程において、調製したすべての試薬溶液、容器、器具にシリケートのバックグラウンドが存在する可能性があるからです。シリケートは非常に弱い酸塩基であるため、水の精製過程では完全に除去することが極めて困難であり、さらに毎回のベースライン値も異なる可能性がある。そのため、一部の既製試薬メーカーは、試薬キットにロット番号ごとの試薬ベースライン値を記載している。自作の試薬を使用する場合は、測定過程において試薬のブランク値を差し引き、標準曲線に実際のゼロ点補正を行う必要がある。
主に、試薬が装置に与える影響を排除することです
では、両者の間には一体どのような概念的・物理的な違いがあるのでしょうか
あなたの質問はあまりにも高度で、正確に理解することができません。申し訳ありません。
申し訳ありません、説明が不十分でした。つまり、ベースライン校正と曲線校正時のゼロ点校正にはどのような違いがあるのか、ということです。