문의 사항: SIL 검증 **고장(Beta) 값 적용
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exSILentia 검증 소프트웨어를 사용하여 PFD를 계산할 때, 회로의 구조 모드가 1oo2나 2oo3와 같은 형태일 경우, 공통 원인 고장(Beta) 값이 작을수록 PFD 값은 작아지고 RRF는 커집니다. 반면, 회로의 구조 모드가 2oo2나 3oo3와 같은 형태일 경우, 공통 원인 고장(Beta) 값이 작을수록 PFD 값은 커지고 RRF는 작아집니다.이것은 어떤 원리인가요?소프트웨어는 무엇을 근거로 이런 결과를 얻는 건가요?근거는 무엇인가?
이 게시글은 마지막으로 지GE가 2020-6-24 16:49에 수정했습니다. 1. PFD(요구 시 고장 확률) 시스템의 고장 확률과 RRF(위험 감소 요인)는 역수 관계에 있습니다.따라서 PFD가 작을수록 RRF는 커지고, SIL 등급은 높아집니다. 2. 전형적인 투표 메커니즘의 PFD 계산 방법은 다음과 같으며, 공식을 통해 공통 결함 요인이 서로 다른 투표 메커니즘의 PFD 계산 결과에 미치는 영향을 확인할 수 있다. 3. 2002를 예로 들면: β가 작을수록 PFD도 작아집니다.글쓴이의 말과는 맞지 않습니다.
1oo2와 2oo3가 공통 요인의 영향을 더 효과적으로 제거하여 PFD를 낮추는 데 동일한 방향으로 작용하기 때문입니다.