تفاوت بین ظرفیت خطای سختافزاری HFT و تکرارپذیری! از استاد بزرگ کمک میخواهم!
Thread Content
اخیراً در حال یادگیری ارزیابی ایمنی عملکردی هستم؛ که شامل چرخه عمر SIS و محاسبات تأیید SIL میشود. در این روش، مفهوم «ضریب اطمینان سختافزاری HFT» نیز وجود دارد. لطفاً کسانی که تخصص دارند، تفاوت آن را با روشهای تکرارپذیری که معمولاً در کارخانهها استفاده میشود، به طور کامل توضیح دهند! خیلی متشکرم!
آخرین بار، این پست توسط یانگ مینگیائو در تاریخ ۲۰۱۶-۱۲-۲۲ ساعت ۲۱:۰۰ ویرایش شد. سلام، در صورت داشتن سؤال، خوشحال میشویم که دربارهاش بحث کنیم. ضریب تحمل خرابی سختافزار HFT، به معنای توانایی واحدهای عملکردی در انجام مداوم کارهای مورد نیاز، حتی در صورت بروز خرابی است. آنچه که به عنوان ظرفیت خطا در سختافزار، یعنی N، شناخته میشود، به این معناست که وجود N+1 خطا منجر به از بین رفتن عملکرد ایمنی خواهد شد. بنابراین، ابتدا مربوط به سختافزار است و هیچ ربطی به کنترل نرمافزاری یا تکنیکهای تشخیصی ندارد. برای کنترلکنندههای منطقی، کنترلکنندههای اضافی به معنای داشتن ظرفیت خطا برابر با ۱ است. در مورد دستگاههای اندازهگیری، معمولاً واحد اصلی آنها فاقد تکرارپذیری است؛ اما اگر دو دستگاه اندازهگیری یکسان وجود داشته باشند و از نظر منطقی در الگوی ۱oo2 قرار گیرند، میتوان گفت که ظرفیت مقاومت در برابر خرابی سختافزاری ۱ خواهد بود. به همین دلیل است که اغلب دستگاههای اندازهگیری در حالت SIF2 قرار دارند؛ زیرا میزان خرابی این دستگاهها، یعنی SFF، معمولاً حدود ۹۰ درصد است. اما تولیدکنندگان میگویند که استفاده از دو دستگاه اندازهگیری تکرارپذیر میتواند سطح ایمنی را به حد SIF3 برساند.
SIF2 یعنی چه؟ آیا باید SIL2 باشد؟ این نتیجه شما احتمالاً با مقایسه جدول محدودیتهای ساختاری LOGIC SOLVERS در IEC61511 به دست آمده است.
آخرین بار این پست توسط zxb1990 در تاریخ ۲۰۱۷-۱-۲۸ ساعت ۲۲:۴۴ ویرایش شد. «زایدبودن» مفهومی نسبتاً کلی است؛ از نظر تئوری، دو یا چند کانال میتوانند زاید باشند. اما HFT به معنای وجود یا عدم وجود تحمل خاصی در برابر خطاهاست؛ برای مثال، در حالت ۱oo۱، میگوییم که زایدبودن وجود ندارد و HFT=0؛ در حالت ۱oo۲، زایدبودن وجود دارد و HFT=1؛ در حالت ۲oo۲ نیز زایدبودن وجود دارد، اما HFT=0 است