Perbedaan antara margin kegagalan perangkat keras HFT dan redundansi! Tolong, para ahli!

Pos ini terakhir diedit oleh Yang Mingyao pada tanggal 2016-12-22 pukul 21:00. Halo, silakan diskusikan jika ada pertanyaan. Marginal kegagalan perangkat keras HFT mengacu pada kemampuan unit fungsional untuk terus menjalankan fungsi yang diharapkan, meskipun terjadi kerusakan. Yang disebut margin kegagalan perangkat keras N, berarti adanya N+1 kegagalan akan menyebabkan hilangnya fungsi keamanan. Jadi, pertama-tama hal tersebut berkaitan dengan perangkat keras, tidak ada hubungannya dengan kontrol perangkat lunak, maupun dengan teknik diagnostik. Bagi kontroler logika, adanya kontroler redundan berarti adanya margin kesalahan sebesar 1. Untuk alat ukur, umumnya unit intinya tidak bersifat redundan. Namun, jika terdapat dua alat ukur yang identik dan beroperasi dalam konfigurasi 1oo2, maka tingkat toleransi terhadap kerusakan perangkat kerasnya dapat dianggap sebesar 1. Inilah mengapa kebanyakan alat ukur memiliki klasifikasi SIF2; karena nilai SFF (tingkat kegagalan alat ukur) biasanya hanya sekitar 90%. Namun, pabrikan menyatakan bahwa penggunaan dua alat ukur yang bersifat redundan dapat mencapai klasifikasi SIF3.

Apa arti SIF2? Bukankah seharusnya SIL2? Kesimpulan Anda seharusnya diperoleh dengan membandingkannya dengan tabel batasan struktural LOGIC SOLVERS dalam IEC61511, bukan?

Pos ini terakhir diedit oleh zxb1990 pada tanggal 2017-1-28 pukul 22:44. Konsep redundansi merupakan konsep yang relatif umum. Secara teori, dua atau lebih saluran dapat dikatakan sebagai sistem yang memiliki sifat redundansi. Namun, HFT merujuk pada sejauh mana suatu sistem memiliki toleransi terhadap kesalahan. Misalnya, untuk konfigurasi 1oo1, dikatakan bahwa tidak ada redundansi, sehingga HFT=0. Sedangkan untuk konfigurasi 1oo2, ada redundansi, sehingga HFT=1. Konfigurasi 2oo2 juga termasuk dalam kategori sistem yang memiliki redundansi, tetapi HFT-nya tetap 0